上海新建　XJ4820型CRT讀出半導體管特性圖示儀 XJ4820型CRT讀出半導體管特性圖示儀用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，以數字字符顯示測試檔級及用光標測試被測器件的各種直流參數，從而減少了讀數誤差，提高了測量精度。本儀器是新一代智能化的測量儀器。

上海新建　XJ4830型智能半導體管特性圖示儀先進的智能儀器 測試開關智能控制，各種控制開關測試條件可預置、測試結果可存盤、可打印輸出，并可適用PC機顯示被測器件特性曲線。 綜合的存儲能力 被測器件的各種特性曲線可編輯存儲在機內硬盤或軟盤中，可隨時調用。并可同時顯示二簇特性曲線，便于用戶對被測器件的比較和配對。 自動光標測量 提供光標測量方式，用CRT讀出，顯示測試檔級、測試值、β、gm及集電極峰值電壓輸出百分比。 友好的人機界面 Z大可能的方便用戶控制操作，用VGA顯示器顯示，分辨率高。

上海新建　QT2型半導體管特性圖示儀 QT2型半導體管特性圖示儀可測量二極管、三極管的低頻直流參數，Z大集電極電流超過50A，能滿足500VA以下器件的測試。本機附有高壓測裝置，可對5KV以下的二極管、三極管進行擊穿電壓及反向漏電腦測試。其測試電流Z高靈敏度可達0.5μ/div

上海新建　XJ4810A型半導體管特性圖示儀 XJ4810型/XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩(wěn)壓管特性。 集電極掃描信號

上海新建　XJ4810型半導體管特性圖示儀 XJ4810型/XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩(wěn)壓管特性。

上海新建　XJ4822型CRT讀出半導體管特性圖示儀 XJ4822 CRT讀出圖示儀，外觀新穎，技術先進，操作方便，能對各類二極管、三極管、場效應管等靜態(tài)參數測試。光標測量數字讀出給用戶帶來方便，二簇曲線顯示對器件各類參數配對尤為方便。測試大功率器件時，可采用單次方式。配3KV測試臺后Vc可達3KV。 ·光標測量，字符讀出，使各種靜態(tài)參數包裝β、Gm均可光標測量字符讀出。 ·雙族顯示用于對各種參數配對 ·Z大測試功率近100W ·階梯電壓±10V＋△VB±5V內阻低特別適宜大功VMOS管測試 ·

新建　XJ4822B型CRT讀出半導體管特性圖示儀 XJ4822B CRT圖示儀，外觀新穎，技術先進，操作方便，能對各類二極管、三極管、場效應管等靜態(tài)參數測試。二簇曲線顯示對器件各類參數配對尤為方便。測試大功率器件時，可采用單次方式。配3KV測試臺后Vc可達3KV。

愛儀 JS-7B晶體管測試儀 JS-7B晶體管測試儀可測NPN/PNP晶體管lceo lcbo，H11，β，Nf等參數，測微電流靈敏度達10nA（滿度值）

本裝置與XJ4810/XJ4810A主機配合使用，能對國內、外不同類型的場效應管進行單管或對管測試。

本裝置與XJ4810/XJ4810A主機配合使用，能測試CMOS、TTL數字集成電路電壓傳輸特性，不僅可判別被測器件功能是否正常，還可測出其開門電壓、關門電壓的重要參數。